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紅外光譜在半導體污染分析中的應用 -Banner.jpg


ATR 能否分析樣品表面的缺陷呢?
無法制備薄片樣品?
能否獲得無散射誤差的圖譜呢?
mIRage? 光熱誘導亞微米紅外光譜儀可輕松識別關鍵尺寸和工藝開發過程中的污染物


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嵌入缺陷成分為硬脂酸鈣組成(樣品:化妝品)

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